上海求育QY-JXSY01C数字电路实验箱提供编有22个实验项目的详细实验指导书,学校可根据自已的教学需要进行改写,扩充及开发其他新的实验项目.电话021-69918115
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实验项目
（1）晶体管开关特性、限幅器与钳位器
（2）TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
（3）CMOS集成逻辑门的逻辑功能与钳位器
（4）集成逻辑电路的连接和驱动
（5）组合逻辑电路的设计与测试
（6）译码器及应用
（7）数据选择器及其应用
（8）触发器及应用
（9）计数器及应用
（10）移位寄存器及应用
（11）脉冲分配器及其应用
（12）使用门电路产生脉冲信号自激多谐振荡器
（13）单稳态触发器与施密特触发器脉冲延时与波形整形电路
（14）555时基电路及其应用
（15）D/A、A/D转换器
数字电路实验注意事项及基本要求
1.1数字集成电路的分类、特点及注意问题
当今，数字电子电路几乎已完全集成化了。因此，充分掌握和正确使用数字集成电路，用以构成数字逻辑系统，就成为数字电子技术的核心内容之一。
集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。小规模集成电路（SSI）是在一块硅片上制成约1～10个门，通常为逻辑单元电路，如逻辑门、触发器等。中规模集成电路（MSI）的集成度约为10～100门/片，通常是逻辑功能电路，如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。大规模集成电路（LSI）的集成度约为100门/片以上，超大规模（VLSI）约为1000门/片以上，通常是一个小的数字逻辑系统。现已制成规模更大的极大规模集成电路。
数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。双极型电路中有代表性的是TTL电路；单极型电路中有代表性的是CMOS电路。国产TTL集成电路的标准系列为CT54/74系列或CT0000系列，其功能和外引线排列与国际54/74系列相同。国产CMOS集成电路主要为CC（CH）4000系列，其功能和外引线排列与国际CD4000系列相对应。高速CMOS系列中，74HC和74HCT系列与TTL74系列相对应，74HC4000系列与CC4000系列相对应。
必须正确了解集成电路参数的意义和数值，并按规定使用。特别是必须严格遵守极限参数的限定，因为即使瞬间超出，也会使器件遭受损坏。
TTL器件的特点：
1．输入端一般有钳位二极管，减少了反射干扰的影响。
2．输出电阻低，增强了带容性负载的能力。
3．有较大的噪声容限。
4．采用+5V的电源供电。
为了正常发挥器件的功能，应使器件在推荐的条件下工作，对CT0000系列（74LS系列）器件，主要有：（1）电源电压应4.75～5.25V的范围内。（2）环境温度在00C～700C之间。（3）高电平输入电压VIH>2V，低电平输入电压VSL<0.8V。（4）输出电流应小于最大推荐值（查手册）。（5）工作频率不能高，一般的门和触发器的最高工作频率约30MHZ左右。
TTL器件使用注意问题：
1．电源电压应严格保持在5V±10%的范围内，过高易损坏器件，过低则不能正常工作，实验中一般采用稳定性好、内阻小的直流稳压电源。使用时，应特别注意电源与地线不能错接，否则会因过大电流而造成器件损坏。
2．多余输入端最好不要悬空，虽然悬空相当于高电平，并不能影响与门（与非门）的逻辑功能，但悬空时易受干扰，为此，与门、与非门多余输入端可直接接到Vcc上，或通过一个公用电阻（几千欧）连到Vcc上。若前级驱动能力强，则可将多余输入端与使用端并接；不用的或门、或非门输入端直接接地，与或非门不用的与门输入端至少有一个要直接接地，带有扩展端的门电路，其扩展端不允许直接接电源。若输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态，当R≤680Ω时，输入端相当于逻辑“0”；当R≥4．7KΩ时，输入端相当于逻辑“1”。对于不同系列的器件，要求的阻值不同。
3．输出端不允许直接接电源或接地，有时为了使后级电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻R接至Vcc，一般取R＝3~5.1 KΩ；不允许直接并联使用（集电极开路门和三态门除外）。
4．应考虑电路的负载能力（即扇出系数），要留有余地，以免影响电路的正常工作。扇出系数可通过查阅器件手册或计算获得。
5．在高频工作时，应通过缩短引线、屏蔽干扰源等措施，抑制电流的尖峰干扰。
CMOS数字集成电路的特点
1．静态功耗低：电源电压VDD=5V的中规模电路的静态功耗小于100μW，从而有利于提高集成度和封装密度，降低成本，减小电源功耗。
2．电源电压范围宽：4000系列CMOS电路的电源电压范围为3～18V，从而使选择电源的余地大，电源设计要求低。
3．输入阻抗高：正常工作的CMOS集成电路，其输入端保护二极管处于反偏状态，直流输入阻抗可大于100MΩ，在工作频率较高时，应考虑输入电容的影响。
4． 扇出能力强：在低频工作时，一个输出端可驱动50个以上的CMOS器件的输入端，这主要因为CMOS器件的输入电阻高的缘故。
5．抗干扰能力强：CMOS集成电路的电压噪声容限可达电源电压的45%，而且高电平和低电平的噪声容限值基本相等。
6．逻辑摆幅大：空载时，输出高电平VOH＞（VDD-0.05V）,输出低电平VOL＜（VSS+0.05V）。
CMOS集成电路还有较好的温度稳定性和较强的抗辐射能力。不足之处是，一般CMOS器件的工作速度比TTL集成电路低，功耗随工作频率的升高而显著增大。
CMOS器件的输入端和VSS之间接有保护二极管，除了电平变换器等一些接口电路外，输入端和正电源VDD之间也接有保护二极管，因此，在正常运转和焊接CMOS器件时，一般不会因感应电荷而损坏器件。但是，在使用CMOS数字集成电路时，输入信号的低电平不能低于（VSS-0.5V），除某些接口电路外，输入信号的高电平不得高于（VDD+0.5V），否则可能引起保护二极管导通，甚至损坏进而可能使输入级损坏。
CMOS器件使用注意事项：
1．电源连接和选择：VDD端接电源正极，VSS端接电源负极（地）。绝对不许接错，否则器件因电流过大而损坏。对于电源电压范围为3V～18V系列器件。如CC4000系列，实验中VDD通常接+5V电源。VDD电压选在电源变化范围的中间值，例如电源电压在8～12V之间变化，则选择VDD=10V较恰当。CMOS器件在不同的VDD值下工作时，其输出阻抗、工作速度和功耗等参数都有所变化，设计中须考虑。
2．输入端处理：多余输入端不能悬空。应按逻辑要求接VDD或接VSS，以免受干扰造成逻辑混乱，甚至还会损坏器件。对于工作速度要求不高，而要求增加带负载能力时，可把输入端并联使用。
对于安装在印刷电路板上的CMOS器件，为了避免输入端悬空，在电路板的输入端应接入限流电阻RP和保护电阻R，当VDD=+5V时，RP取5.1KΩ，R一般取100KΩ～1MΩ。
3．输出端处理：输出端不允许直接接VDD或VSS，否则将导致器件损坏，除三态（TS）器件外，不允许两个不同芯片输出端并联使用，但有时为了增加驱动能力，同一芯片上的输出端可以并联。
4．对输入信号VI的要求：VI的高电平VIH＜VDD，VIL的低电平VIL小于电路系统允许的低电压；当器件VDD端未接通电源时，不允许信号输入，否则将使输入端保护电路中的二极管损坏。
1.2集成电路外引线的识别
使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。引脚排列的一般规律为：
圆形集成电路：识别是，面向引脚正视，从定位销顺时针方向依次为1.2.3……如图B1.1（a）。圆形多用于集成运放等电路。
扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……如图B1.1（b）。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc—般排列在左上端，接地端GND一般排在右下端，如74LS00为14脚芯片，14脚为Vcc，7脚为GND。若集成电路芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。
扁平型多用于数字集成电路，双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。
1.3数字逻辑电路的测试方法
1. 组合逻辑电路的测试
组合逻辑电路测试的目的是验证其逻辑功能是否符合设计要求，也就是验证其输出与输入的关系是否与真值表相符。
(1). 静态测试。静态测试是在电路静止状态下测试输出与输入的关系。将输入端分别接到逻辑电平开关上，用电平显示灯分别显示各输入和输出端的状态。按真值表将输入信号一组一组地依次送入被测电路，测出相应的输出状态，与真值表相比较，借以判断此组合逻辑电路静态工作是否正常。
(2). 动态测试动态测试是测量组合逻辑电路的频率响应。在输入端加上周期性信号，用示波器观察输入、输出波形。测出与真值表相符的最高输入脉冲频率。
2. 时序逻辑电路的测试
时序逻辑电路测试的目的是验证其状态的转换是否与状态图或时序图相符合。可用电平显示灯、数码管或示波器等观察输出状态的变化。常用的测试方法有两种，一种是单拍工作方式：以单脉冲源作为时钟脉冲，逐拍进行观测，来判断输出状态的转换是否与状态图相符。另一种是连续工作方式：以连续脉冲源作为时钟脉冲，用示波器观察波形，来判断输出波形是否与时序图相符。
1.4数字实验的基本过程
实验的基本过程，应包括：确定实验内容、选定最佳的实验方法和实验线路、拟出较好的实验步骤、合理选择仪器设备和元器件、进行连接安装和调试、最后写出完整的实验报告。
在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利用集成器件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实验预习、实验记录和实验报告等环节。
实验预习:
认真预习是做好实验的关键。预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果。预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，以保证所预习设计的内容正确，这样不但可拓宽设计思路，也可大大节省实际在实验室操作的时间和排错的时间，提高实验效率。通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：
1.绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。
2.拟定实验方法和步骤。
3.拟好记录实验数据的表格和波形座标，并记录预习的理论值。
4.列出元器件清单。
实验记录是实验过程中获得的第一手资料。测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致，所以记录必须清楚、合理、正确，若不正确，则要现场及时重复测试，找出原因。实验记录应包括如下内容：
1.实验任务、名称及内容。
2.实验数据和波形以及实验中出现的现象，从记录中应能初步判断实验的正确性。
3.记录波形时，应注意输入、输出波形的时间相位关系，在座标中上下对齐。
4.实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。
实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段，也是一项重要的基本功训练，它能很好地巩固实验成果，加深对基本理论的认识和理解，从而进一步扩大知识面。实验报告是一份技术总结，要求文字简洁，内容清楚，图表工整。
报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等，其中实验内容和结果是报告的主要部分，它应包括实际完成的全部实验，并且要按实验任务逐个书写，每个实验任务应有如下内容：
1.实验课题的方框图、逻辑图（或测试电路）、状态图，真值表以及文字说明等，对于设计性课题，还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。
2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和波形图，其中表格、曲线和波形图应充分利用专用实验报告简易座标格，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画出。
3.实验结果分析、讨论及结论，对讨论的范围，没有严格要求，一般应对重要的实验现象、结论加以讨论，以便进一步加深理解，此外，对实验中的异常现象，可作一些简要说明，实验中有何收获，可谈一些心得体会。
1.5数字实验中操作规范和常见故障检查方法
实验中操作的正确与否对实验结果影响甚大。因此，实验者需要注意按以下规程进行。
1.搭接实验电路前，应对仪器设备进行必要的检查校准，对导线是否导通，用万用表进行测量，对所用集成电路是否好坏，搭接简单电路进行功能测试。
2.搭接电路时，应遵循正确的布线原则和操作步骤（即要按照先接线后通电，做完后，先断电再拆线的步骤）。
3.掌握科学的调试方法，有效地分析并检查故障，以确保电路工作稳定可靠。
4.仔细观察实验现象，完整准确地记录实验数据并与理论值进行比较分析。
5.实验完毕，经指导教师同意后，可关断电源拆除连线，整理好放在实验箱内，并将实验台清理干净、摆放整洁。
实验操作的布线原则和故障检查。
布线原则：应便于检查、排除故障和更换器件。在数字电路实验中，有错误布线引起的故障，常占很大比例。布线错误不仅会引起电路故障，严重时甚至会损坏器件，因此，注意布线的合理性和科学性是十分必要的，正确的布线原则大致有以下几点：
1.接插集成电路芯片时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将芯片插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。
2.不允许将集成电路芯片方向插反，一般IC的方向是缺口（或标记）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。
3.布线时，最好采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地线用黑色。
4.布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是首先接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。
5.连线应避免过长，避免从集成器件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。
6.当实验电路的规模较大时，应注意集成元器件的合理布局，以便得到最佳布线，布线时，顺便对单个集成器件进行功能测试。这是一种良好的习惯，实际上这样做不会增加布线工作量。
7.应当指出，布线和调试工作是不能截然分开的，往往需要交替进行，对大型实验元器件很多的，可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分，逐个布线、调试（分调），然后将各部分连接起来（联调）。
故障检查：实验中，如果电路不能完成预定的逻辑功能时，就称电路有故障，产生故障的原因大致可以归纳以下四个方面：
1.操作不当（如布线错误等）
2.设计不当（如电路出现险象等）
3.元器件使用不当或功能不正常
4.仪器（主要指数字电路实验箱）和集成器件本身出现故障。
因此，上述四点应作为检查故障的主要线索，以下介绍几种常见的故障检查方法：
1.查线法。由于在实验中大部分故障都是由于布线错误引起的，因此，在故障发生时，复查电路连线为排除故障的有效方法。应着重注意：导线是否导通，有无漏线、错线，导线与插孔接触是否可靠，集成电路是否插牢、集成电路是否插反、是否完好等。
2.观察法。用万用表直接测量各集成块的Vcc端是否加上电源电压；输入信号、时钟脉冲等是否加到实验电路上，观察输出端有无反应。重复测试观察故障现象，然后对某一故障状态，用万用表测试各输入/输出端的直流电平，从而判断出是否是插座板、集成块引脚连接线等原因造成的故障。
3.信号注入法。在电路的每一级输入端加上特定信号，观察该级输出响应，从而确定该级是否有故障，必要时可以切断周围连线，避免相互影响。
4.信号寻迹法。在电路的输入端加上特定信号，按照信号流向逐级检查是否有响应和是否正确，必要时可多次输入不同信号。
5.替换法。对于多输入端器件，如有多余端则可调换另一输入端试用。必要时可更换器件，以检查器件功能不正常所引起的故障。
6.动态逐线跟踪检查法。对于时序电路，可输入时钟信号按信号流向依次检查各级波形，直到找出故障点为止。
7.断开反馈线检查法。对于含有反馈线的闭合电路，应该设法断开反馈线进行检查，或进行状态预置后再进行检查。
以上检查故障的方法，是指在仪器工作正常的前提下进行的，如果实验时电路功能测不出来，则应首先检查供电情况，若电源电压已加上，便可把有关输出端直接接到0—1显示器上检查，若逻辑开关无输出，或单次CP无输出，则是开关接触不好或是内部电路坏了，一般就是集成器件坏了。
需要强调指出，实验经验对于故障检查是大有帮助的，但只要充分预习，掌握基本理论和实验原理，就不难用逻辑思维的方法较好地判断和排除故障。